NIDays 2016

お問い合わせ

NIDays 2016 事務局
(株式会社博展 内)

担当:柿崎(かきざき)
是永(これなが)

E-mail:info@nidays.jp

〒104-0045
東京都中央区築地1-13-14
NBF東銀座スクエア 5階

TEL:03-4577-8363

特別協賛

NIDays 2016|2016年10月26日(水)東京コンファレンスセンター(品川)

NIDays 2016 今年の開催は10月26日に決定!

NIDaysは「LabVIEW」を中心としたNIプラットフォームベースアプローチを活用した、最新システムや業界動向などを紹介するイベントです。自動車、通信、エレクトロニクスからアカデミックまで、幅広い業界におけるNI製品の採用事例も多く発表されます。

日時 2016年10月26日(水) 10:00~18:00 (9:30受付開始)
会場 東京コンファレンスセンター(品川)
入場料 無料(事前登録制)
主催 日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

What’s New?

2016/10/26 NIDays 2016は、盛況のうちに終了いたしました。多数のご来場、誠にありがとうございました。
2016/10/24 NIDaysご登録を締め切りました。
2016/10/19 【〆切迫る】NIDays登録受付最終受付は10/24(月)10時までです。登録がまだお済でない方はお急ぎください。
2016/9/30 A-1 「LabVIEWでできること」を更新しました(セッションプログラム)
2016/9/27 D-4 IHSグローバル 棚町氏の講演者プロフィールを更新しました(申込ページ)
2016/9/23 B-1 トヨタ自動車 服部氏の講演者プロフィールを更新しました(申込ページ)
2016/9/23 D-2 ヒューレット・パッカード 石井氏、岡田氏の講演者プロフィールを更新しました(申込ページ)

セッションプログラム

9:30~

総合受付

総合受付オープン

10:00~11:20

基調講演

あらゆるモノがつながった時、可能性は無限になる

2020年までに、500億台のデバイスがデジタル接続され、19兆ドル分のビジネスが新たに生まれると言われています。インダストリアルIoT(IIoT)はあらゆる場所で形成され、ローカルで制御やデータ収集を行う「エッジコンピューティング」から、インテリジェントな「System of Sytems(SoS)」からなる全ネットワークに至る、幅広い分野に広がりを見せ始めています。IIoT以外にも、絶えず「新しい何か」が求められる世の中に、打って出るような画期的な技術を展開するには、「正しい情報」を「正しいタイミング」で入手し、「適切な判断」を下すことが重要になります。そうは言うものの、その「新しい何か」が 数十万個のセンサを搭載したモノが多数組み合わされているもので、これまでとは全く違ったレベルのインテリジェンスが組み込まれており、それを通じて膨大な量のBig Analog Dataを収集し、収集されたデータが超高速ワイヤレスネットワークで転送される ―
そのようなことになったら、どうなるでしょうか?未来は私たちの目の前でめまぐるしく進化していきますが、NIはこれまでも様々な技術動向をとらえ、それらをテスト・計測・制御分野に反映させてきました。NIDays基調講演では「あらゆるモノがつながった時、可能性は無限になる」をテーマに、ほとんどすべての業界で起こっている技術の進化とそれに伴う課題・解決策をお話しします。

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

11:20~11:30

Engineering Impact Award Japan授賞式

Engineering Impact Award Japan とは、ナショナルインスツルメンツ(NI)製のソフトウェア・ハードウェアを使用したアプリケーションを、全国のユーザより募り、技術、コスト、革新性等の面から審査するコンテストです。授賞式後のランチョンセッションではEngineering Impact Award Japan の最優秀賞者による作品発表を行います。

11:30~ Lunch Time 3F/4F/5F (3Fレストランおよびランチョンセッション会場にて昼食を用意いたします。)
13:00~13:45

技術セッション

A-1 【LabVIEW】 初心者向け

LabVIEWでできること

LabVIEWは世界中のエンジニアや科学者に広く支持されているシステム開発ソフトウェアです。我々エンジニアや科学者が生産性・イノベーション・発見を求めて仕事をするためには、計測データの収集と解析、信号処理、表示/保存、計測器制御、シミュレーション、組込、などのシステム開発スキルが求められますが、LabVIEWにはこれらに素早く対応できるライブラリが揃っています。本セッションでは、回転機械の状態監視を例題として取り上げ、LabVIEWがどのように課題解決に役立つのかを理解します。加速度センサから振動をピックアップし、解析を行うことで異常を発見し、最終的に機械/設備の予知保全に繋がる知見を獲得します。まったくの白紙状態から短時間でデータ収集&解析システムが完成してゆく様子を目の前で実演しますので、「LabVIEWで何ができるの?」というシンプルな疑問をお持ちの皆様に、是非ともご参加いただきたいセッションです。

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

14:00~14:45

技術セッション

A-2 【LabVIEW】 ユーザ向け

LabVIEWの新機能と未来

LabVIEWはエンジニアや研究者の生産性向上に特化した開発環境として、様々な産業において成功を実現してきました。新しいLabVIEWでは何ができるようになったのか?今後はどう変わっていくのか?LabVIEWで統合システムを作成されているあなたにも、趣味でLabVIEWを使用しているあなたにもお伝えしたい、NI ソフトウェアの未来をお届けします。

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

14:45~15:15 休憩時間 4F/5F (展示会場にてドリンクを用意いたします。)
15:15~16:00

技術セッション

A-3 【センサ計測】

LabVIEWを疑似体験!センサー計測システムを40分以内で構築する!

「センサ計測システムを導入したいけれど、システム要件を完全に満たせるターンキー製品がなかなか見つからない」そんなお悩みはありませんか?また、システムを自作した場合にも、「新たな開発環境に慣れるまでに時間がかかる」というのもよく聞くお悩みです。本セッションでは、LabVIEWとCompactDAQ(データ収集ハードウェア)を使い、システム要件を満たしつつ、LabVIEW開発環境が初めての人でも使いやすいセンサ計測システムを、40分以内に1から作ります。グラフィカルな開発環境とモジュール式の計測ハードウェアにより、短時間でシステムが出来上がる様子を疑似体験できます。

◆ 参加対象者:センサー計測システムの導入を検討している方、LabVIEWの導入を検討中の方

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

16:15~17:00

ゼネラルセッション

A-4 【クロージングキーノート】

テクノロジーの進化による自動車業界の大変革

自動車分野において世界最大規模の調査・予測会社であるIHS オートモーティブのアナリスト・棚町氏をお招きし、「何もかもを明瞭にするユーザーエクスペリエンス」、「大きく成長する自動化&自律運転テクノロジー」、「ゲームチェンジを起こすハイテクのインパクト」といった幅広い業界動向について発表していただきます。

IHSグローバル株式会社 テクノロジー、メディア&テレコム部門 主席エキスパート 棚町 悟郎 氏

※プログラムは事前の予告なく変更になる場合があります。予めご了承ください。

9:30~

総合受付

総合受付オープン

11:30~ Lunch Time 3F/4F/5F (3Fレストランおよびランチョンセッション会場にて昼食を用意いたします。)
13:00~13:45

技術セッション

B-1 【自動車:テクニカルデータ管理】

NI DIAdemとNI DataFinder Server Editionを用いた、実験データの管理および解析効率化への取り組み

近年、技術の高度化・複雑化により日々扱われる実験データの量は急速に増えており、実験データの解析を効率化する必要性が増しています。また、モデルベース開発の推進により、実験データを再活用できるようしておくことも重要となっています。本セッションでは、NI DIAdemとNI DataFinder Server Editionを用いた、実験データの管理および解析の効率化に対する取り組み事例を、トヨタ自動車の服部氏に紹介していただきます。

◆ 参加対象者: データ管理、解析システムを検討している方

トヨタ自動車株式会社 ユニットセンターユニット開発基盤デジタル改革部プロセス改革室 服部 晋治氏

14:00~14:45

技術セッション

B-2 【データ収集・テクニカルデータ管理】

~IoTに欠かせない、Big Analog Data の管理手法~ 最適なデータ収集・解析・管理ソリューションの提案

近年、データ収集システムから生成されたアナログデータが爆発的に増えています。このデータをうまく使えば、より多くの情報を手に入れることができ、より迅速かつ的確な意思決定ができます。しかし「正しいデータ管理の仕組み」がなければ、未解析でドキュメント化されていない大量のデータが存在するだけです。本セッションではデータ管理の不備による損失を抑え、データを効率的に収集・管理・解析する手法を提案します。また、「データ収集ハードウェアの選定」から、「データ収集」・「メタデータのつけ方」・「データの検索と解析プロセス」などを実演デモで紹介します。

◆ 参加対象者:データ収集、解析、管理システムを検討している方

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

14:45~15:15 休憩時間 4F/5F (展示会場にてドリンクを用意いたします。)
15:15~16:00

技術セッション

B-3 【自動車:HILテスト】 

モデルベーステストの自動化適用事例

昨年もご登壇いただいたNI HILソフトウェアユーザの高尾氏に、本年もモデルベーステストの適用事例を発表していただきます。車載ソフトウェアのモデルベーステストを効果的に行うには自動テストは必須ですが、自動テストでは適切なテスト条件発生と共に、テスト結果の検証が重要になってきます。特に単純に閾値判定できないような制御要件の場合、システム挙動の検証方法が課題となります。本講演では高尾氏から昨年の成果と課題を基に、実際にソフトウェア詳細不明のブラックボックステストで条件下で、自動判定を試みた事例を紹介していただきます。

◆ 参加対象者:HILシステム導入を検討している方

「HILsとTestの案内人」 & 元三菱ふそう電子制御技術者 高尾 英次郎氏

16:15~17:00

技術セッション

B-4 【データ収集】

DAQmx 脱初心者のための、DAQデータ収集システム構築法

DAQアシスタントから次のステップを目指し、より高度なDAQシステムを構築してみませんか?本セッションでは、DAQアシスタントからスタートし、アナログ信号、デジタル信号、カウンタ計測の複数チャンネルの信号を同期させ、高度なマルチファンクション計測システムの構築を実演します。本セッションを通じて、DAQmxをより効果的に活用する方法を学びましょう。

◆ 参加対象者:DAQmxの既存ユーザ、新規ユーザ

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

※プログラムは事前の予告なく変更になる場合があります。予めご了承ください。

9:30~

総合受付

総合受付オープン

11:45~12:15

ランチョンセッション

C-0 【ユーザ事例】

Engineering Impact Award Japan受賞者による作品発表

ランチョンセッションではランチボックスを用意しています。ユーザセッションを聴講しながら、昼食をお召し上がりください。(発表作品に関する情報は事前に公開されません。)

※早期登録をされた方が本セッションを選択した場合、特典のランチビュッフェはご利用できなくなりますので、ご了承ください。

13:00~13:45

技術セッション

C-1 【半導体テスト】

IoT時代の半導体テストの成功のカギは最新のモジュール式計測器

インダストリー4.0やIoTのトレンドが加速するものづくりの世界では、ものづくりの手法が従来の大量生産から、消費者のパーソナルニーズにきめ細かく対応可能な多品種少量生産にシフトすると予測されています。そして、多品種少量生産への要求は、半導体製造業界に対しても同様になされるものと考えられます。この要求に応じるためのひとつの戦略として、従来よりも柔軟な半導体テストシステムを実現することが挙げられます。本セッションでは、NIのモジュール式計測器をベースにしたプラットフォームが柔軟な半導体テストシステムを実現できる存在であることを紹介します。そして、半導体テストに欠かせないモジュール式計測器として、高確度・高密度なソースメジャーユニット (SMU) とデジタルパターン計測器を紹介します。

◆ 参加対象者:半導体テストの開発担当者

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

14:00~14:45

技術セッション

C-2 【ワイヤレステスト】

最新の広帯域・高性能RF計測器で5G・802.11ax/ay・ミリ波通信技術の実現へ

移動通信システムや無線LANシステムをはじめとした無線通信システムでは、増加の一途を辿る無線トラフィックの需要に応えるために、現状よりも数十倍もの高速大容量化が求められています。この要求に応えるため、5GやIEEE 802.11ax/ayに代表される次世代の無線通信規格では、周波数チャネルの飛躍的な広帯域化や、1024-QAMなどの超多値変調の追加、さらには移動通信システムにおけるミリ波通信の導入などが議論されています。これら次世代無線通信規格の実現には、システム試作や商品開発・量産に活用されるRF計測器の広帯域化・高性能化が不可欠です。本セッションでは飛躍的な広帯域化・計測性能の進化を遂げたNIのRF計測器が、5G・802.11ax/ayの実現のキープレーヤーであることを示します。

◆ 参加対象者:無線通信技術の研究開発担当者、ワイヤレステスト・RF半導体テストの開発担当者

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

14:45~15:15 休憩時間 4F/5F (展示会場にてドリンクを用意いたします。)
15:15~16:00

技術セッション

C-3 【自動テスト】

よりスマートなテストシステムへ ~テストシステムがビジネスの主役となるための5つの重要技術~

テストシステムの構築においては、ハードウェアのコストやシステム立ち上げなどの初期投資だけに囚われていると、長期の運用の結果生じるコストが膨大になり、将来の競争力を失う危険があります。NIの「よりスマートな」テストシステムを活用することで、スループットの向上やタクトタイムの低減を実現しながら、テストシステムのライフサイクルマネジメントや、研究開発と量産の間でのテスト資産の積極的な再利用といった取り組みが可能となります。その結果、テストシステムにおけるコストをこれまで以上に最適化でき、テストシステムがビジネスに重要なインパクトをもたらすことができます。本セッションでは、このようなスマートなテストシステムを実現するためのカギを紹介します。

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

16:15~17:00

技術セッション

C-4 【無線通信・レーダシステム】

NIのプラットフォームで世の中のRFシステムを支えるスペクトルモニタリング技術が進化する!

RF計測器を用いて無線周波数の使用状況を監視するスペクトルモニタリング技術は、TVホワイトスペースの活用や、ダイナミックスペクトルアクセスに代表されるコグニティブ無線技術が脚光を浴びるのに比例して、その存在感を高めている技術です。スペクトルモニタリング技術は他にも、航空防衛・レーダ技術・行政などによる無線周波数資源管理など、多岐にわたるRFシステムの開発・運用に欠かせない技術です。本セッションでは、スペクトルモニタリング技術の基礎や動向を紹介します。また、NIのプラットフォームを活用することで、スペクトルモニタリングシステムの性能を左右するオンボード信号処理能力・遅延・帯域幅を今まで以上に高めることができ、将来のスペクトルモニタリング技術の発展にはNIのプラットフォームが欠かせないことを説明します。

◆ 参加対象者:無線通信・レーダシステムの研究者・開発担当者、物理学の研究者

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

※プログラムは事前の予告なく変更になる場合があります。予めご了承ください。

9:30~

総合受付

総合受付オープン

11:45~12:15

ランチョンセッション

D-0 【ユーザ事例】

Engineering Impact Award Japan受賞者による作品発表

ランチョンセッションではランチボックスを用意しています。ユーザセッションを聴講しながら、昼食をお召し上がりください。(発表作品に関する情報は事前に公開されません。)

※早期登録をされた方が本セッションを選択した場合、特典のランチビュッフェはご利用できなくなりますので、ご了承ください。

13:00~13:45

技術セッション

D-1 【ユーザ事例】

IoT化のための導入ステップを基礎から学ぶ! オンライン状態監視システムの導入課題と解決事例

「IoTが流行しているが、具体的にどうしたら良いのかわからない」というご相談を頻繁にお受けします。その背景として、「計測と解析の経験が無い」「人間の感覚に依存している検査を自動化したい」という課題を伺うことが数多くあります。本セッションでは、インダストリアルIoTの主要アプリケーションであるオンライン状態監視を取り上げ、国内事例である錢高組様のトンネル工事モニタリングシステムの開発事例をはじめ、国内の事例を複数交えながらオンライン状態監視システムの導入時の課題と解決事例に関して解説します。そして受講者の皆様がIoT化のために何から取り組むのが良さそうなのか、具体的なイメージを持って頂けるように説明します。

株式会社イー・アイ・ソル 常務取締役 平澤 啓氏

14:00~14:45

技術セッション

D-2 【組込】

コンバージドIoTシステム-計測制御システムの新たな可能性

HPE Edgelineは、業界初の「コンバージドIoTシステム」です。 衝撃、振動、温度などエッジ(≒現場)での厳しい環境でも動作するように設計されたこのシステムは、1つのボックスで高精度のデータ収集、解析、制御を実現し、データの処理をデータセンターやクラウドシステムからエッジにまで拡張させます。IoTにおいて各種センサーから収集されるビッグデータは、これまでのITで扱われてきたビッグデータよりもはるかに大きく、データの性質そのものが異なっていますが、HPE Edgelineは、IoTデータのリアルタイムの分析と制御を、より現場に近い場所で処理し、加速させます。本セッションでは、NIとHPEとの協業について触れ、ITとOTとの融合がもたらす新たな可能性の一例として、Flowserve社と共同開発した予知保全システムを紹介します。

Hewlett Packard Enterprise, Asia Pacific & Japan
製造・流通・サービスインダストリ事業開発ディレクタ 石井 利幸氏/
日本ヒューレット・パッカード株式会社 シニアコンサルタント 岡田 和美氏

14:45~15:15 休憩時間 4F/5F (展示会場にてドリンクを用意いたします。)
15:15~16:00

技術セッション

D-3 【製品セッション:組込】

IoTの具現化に必須のNI組込開発プラットフォームとエコシステムの最新情報

開発の初期段階では、素早くアイデアを形にするためのプロトタイピングが重要になります。ところが近年のシステム開発では、IoT化のトレンドにより、センサ計測、画像処理、フィードバック制御、クラウド接続など、開発者にとって専門外の技術を組合わせる必要があり、斬新なアイデアの実現の妨げになっています。本セッションでは、NI Linux Real-Time OSを搭載したコントローラについて紹介し、LabVIEWだけでなくC/C++を用いた開発方法にも触れることで、近年、NIが提供している組込開発プラットフォームとエコシステムについて体系的に説明します。

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

16:15~17:00

技術セッション

D-4 【組込】

40分間で学ぶ! 初心者のためのLabVIEW FPGAを用いたシステム開発デモ

IoT化により莫大なセンサデータの前処理や、高速なフィードバック制御が要求されるため、FPGAが注目を集めています。しかしながらFPGAのプログラミンのためには専用言語の習得が追加で必要となり、それが導入上の壁になっていました。ところが、このFPGAのプログラミングにもLabVIEWが使用されるようになり、ソフトウェア無線システムの試作開発や、工作機械の制御等に使用されています。本セッションでは講師によるデモを通して、LabVIEWによるFPGAプログラミングの概要をリアルに疑似体験していただきます。題材としては、バタワースフィルタの開発を行い、同時にフィルタ処理された信号を視覚化するためのGUIの開発の流れを紹介します。

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

※プログラムは事前の予告なく変更になる場合があります。予めご了承ください。

9:30~

総合受付

総合受付オープン

9:45~11:30

体験セミナー

H-1.0 【LabVIEWユーザ対象】

myRIOを用いた組込システム構築体験セミナー

myRIOは小型ボディにマルチコア・リアルタイムプロセッサ、FPGA、プログラム可能な多数のアナログ・デジタル入出力、USBポート、WiFiが搭載されたハードウェアプラットフォームです。myRIOは、産業界で実績のある技術が学べる組込ハードウェアデバイスで、実世界の複雑な組込システムをこれまでにない短時間かつ低コストで開発することができます。また、LabVIEWを利用すれば再構成可能I/O(RIO)アーキテクチャを簡単にプログラミングすることができます。この体験セミナーでは、組込システムの概念とプログラミング手法を1つのデバイスで学習します。
※本セミナーはLabVIEWを使用したことのある方を対象としています。セミナーの中ではLabVIEWの操作方法についての解説はありませんので、未使用の方は参加できません。予めご了承ください。

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

11:30~ Lunch Time 3F/4F/5F (3Fレストランおよびランチョンセッション会場にて昼食を用意いたします。)
13:00~14:45

体験セミナー

H-1.1 【入門編】

自動計測システム構築体験セミナー

近年、計測器制御ツールの使いやすさは劇的に向上していますが、その中でもNIのシステム開発ソフトウェア「LabVIEW」はNo.1の業界シェアを誇っています。このLabVIEWを活用することで、計測器の制御やデータ取得を迅速に行うことができます。また、データ取得後の「解析・表示・保存・レポート機能」が充実しており、将来的に計測・制御プラットフォームとして、今まで複数のツールを使っていた作業をLabVIEWで一本化できるといったメリットもあります。本セッションでは、LabVIEWを用いた計測器制御の手順やメリット、テキスト言語との違いを計測器シミュ レータを用いて体験できます。
※本セミナーは通常開催している無料セミナー「【入門編】自動計測システム構築体験セミナー」の短縮版です。

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

14:45~15:15 休憩時間 4F/5F (展示会場にてドリンクを用意いたします。)
15:15~17:00

体験セミナー

H-1.2 【入門編】

増え続ける膨大なデータの管理をシンプルに ~DIAdemソフトウェア体験セミナー~

PC技術の進化に伴い大量のデータを高速に計測できるようになりましたが、計測した生データをより意味のある情報にするために、必要なデータを検索し、解析し、レポート化する作業は、データ収集・計測・テストに携わるエンジニアをいまだに悩ませています。DIAdemは、計測データやシミュレーションで生成されたデータを、すばやく簡単に検索、ロード、視覚化、解析、レポート生成できるソフトウェアツールで、大量のデータにすばやくアクセスして処理し、レポートを作成することが求められる最新のテスト環境のニーズにも対応できるよう設計されています。Excelを駆使してエンジニアリングデータと悪戦苦闘されている方には、ぜひ一度体験していただきたいソフトウェアです。

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

9:30~

総合受付

総合受付オープン

9:45~11:30

体験セミナー

H-2.0 【LabVIEWユーザ対象】

計測器制御システム体験セミナー

システム開発ソフトウェア「LabVIEW」とモジュール式の計測器(DMM、関数発生器、オシロスコープ、SMU、高速デジタル、スイッチ)を共に活用すると、計測器制御システムとして生産性を最も高めることができます。本セミナーでは実際にフィルタ、LED、伝送ラインなど のテスト対象を1つずつ用いLabVIEWとPXIを使ってテストコードを作成する方法を学びます。
※本セミナーはLabVIEWを使用したことのある方を対象としています。セミナーの中ではLabVIEWの操作方法についての解説はありませんので、未使用の方は参加できません。予めご了承ください。

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

11:30~ Lunch Time 3F/4F/5F (3Fレストランおよびランチョンセッション会場にて昼食を用意いたします。)
13:00~14:45

体験セミナー

H-2.1 【実践編】

自動計測システム構築体験セミナー

近年ますます複雑化するデバイスを設計段階で検証したり、試作デバイスの特性を評価したり、または量産における自動テストシステムを構築する場合、これまで以上に複数の計測器を必要とし、これまでよりも高速に、自動でテストを行う必要が生じています。本セミナーは、このようなエンジニアの課題を解決するための、最新の自動計測システム構築の手法とノウハウを学んでいただくセミナーです。テスト管理ソフトウェアTestStandと、モジュール式の計測器(DMM、関数発生器、オシロスコープ、SMU、高速デジタル、スイッチ)を活用し、実際にフィルタ、LED、FETなどのテスト対象を複数同時にテストするシステム構築を体験できます。
※本セミナーは通常開催している無料セミナー「【実践編】自動計測システム構築体験セミナー」の短縮版です。

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

14:45~15:15 休憩時間 4F/5F (展示会場にてドリンクを用意いたします。)
15:15~17:00

体験セミナー

H-2.2 【LabVIEWユーザ対象】

USRP RIOを用いたソフトウェア無線体験セミナー

5Gなどの次世代のワイヤレス通信システムの研究・開発において、いかに早くコンセプトやアルゴリズムを実世界の環境で実証できるかが、開発競争を勝ち抜く上で大きな鍵となっています。本セミナーではOFDM方式を例にとり、無線通信システムのプロトタイピングを体験できます。低コストながらも柔軟性に優れたソフトウェア無線(SDR)を利用することで、標準のPCを次世代ワイヤレスプロトタイピングツールとし、画期的な LabVIEW CommunicationsソフトウェアとNI USRP™(Universal Software Radio Peripheral)を併用することで、ソフトウェアとハードウェアの極めて高い統合性を実現します。
※本セミナーは通常開催している無料セミナー「USRP RIOを用いたソフトウェア無線体験セミナー」の短縮版のため、LabVIEWの操作方法は解説しません。そのため、LabVIEWを使用したことのない方は参加できませんので、予めご了承ください。

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

会場のご案内

東京コンファレンスセンター・品川  会場Webサイト

〒108-0075 東京都港区港南 1-9-36 アレア品川 5F
【交通アクセス】 JR品川駅 港南口(東口)より徒歩2分